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MORLAB在上海成功举办“3G测试认证及RoHS&WEEE要求研讨会

2006-01-10 15:29:06  来源:MORLAB  浏览次数:363  文字大小:【】【】【

  2006年1月9日MORLAB在上海成功举办了“3G测试认证及WEEE、RoHS要求研讨会”应对方案研讨会。MORLAB摩尔实验室总经理苏锋主持了会议。

  此次会议邀请了具有多年RoHS测试认证经验,并且作为中国“电工电子产品与系统的环境领域标准化工作组”成员,对口IEC/TC111开展环境标准化工作,并开展有关针对欧盟废旧电器指令和电器中禁止某些有害物质指令的标准研究及制定等有关标准化工作的专家-MORLAB摩尔实验室RoHS认证部叶雪梅部长,给与会的嘉宾做了“WEEE&RoHS双指令应对方案”的专题。

  参会企业有中兴,禹华,英华达,联想,夏新,飞利浦,毅仁等国内外大型手机设计公司和生产企业。很多企业都是派出多人参加,可见RoHS对国内企业已经造成很大的影响,并极大引起了企业对RoHS的关注。

  美国Agilent公司的3G专家也介绍了“GS8800手机设计认证系统”和“WiNET测试方案”,英国Anite公司的专家介绍了其公司的“2G/3G测试解决方案”。与会代表也表示了极大的热情,提出了很多的提问,专家们都一一做了回答。

  会后部分与会代表参观了MORLAB上海实验室。

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