深圳摩尔实验室（MORLAB）将于2009年5月8日下午在深圳电子检测大厦二楼多功能厅举办OTA及SAR测试技术研讨会。

    随着无线通信产品技术的快速发展,国际及国内认证组织机构对无线通信产品的测试及认证均提出了新的标准和要求.GCF，PTCRB，CCC以及CTA等都越来越关注无线产品的发射性能以及对人体的影响，因此OTA和SAR的测试已经或即将成为强制测试内容. 同时,作为衡量无线通信产品辐射性能的重要指标,OTA与SAR测试存在着相互矛盾,相互制约的关系。MORLAB举办此次研讨会的目的是为了帮助广大的无线终端产品厂商更加深入地了解行业最前端的测试标准与信息,为产品测试寻求最佳解决方案。届时，摩尔EMC实验室，OTA实验室及SAR实验室的资深测试工程师，将针对GCF、PTCRB、CTIA以及CTA等的最新标准及要求，对OTA的有源测试和无源测试、以及各国对SAR的测试要求做详细说明。
 

本次研讨会的主题为：

    1.天线与OTA 测试技术
    2.天线与辐射杂散测试技术
    3.各国对SAR测试的标准及要求

会议时间：2009年5月8日（下午14：30至17：30）

会议地点：深圳市南山区沙河路电子检测大厦二楼会议厅

费用；免费

报名方式：请您于5月6日之前联系摩尔实验室 市场部 蔡丽小姐，直接报名。

Tel: (86-0755) 86130308，86130268,86130298－3208     Fax: (86-0755) 86030218   
Mobile Phone:13612964798                           Email：caili@morlab.com.cn

摩尔实验室真诚欢迎各位的莅会！

[附件:OTA及SAR测试技术研讨会邀请函（下载）]

    如需更多资料，请发信到以下地址：info_sz@morlab.cn或致电：0755－86130318。