为了帮助广大的无线终端产品厂商更加深入地了解行业最前端的测试标准与信息，同时也为关注OTA及SAR技术的厂商和企业提供一个交流的平台，2009年5月8日下午，在深圳电子检测大厦二楼多功能厅，深圳摩尔实验室成功举办了“OTA及SAR测试技术研讨会”。深圳及周边地区100多名无线终端厂商代表参加了本次研讨会。
本次研讨会上所讨论的具体主题有:
⊙ 天线与OTA 测试技术
⊙ 天线与辐射杂散测试技术
⊙ 各国对SAR测试的最新标准及要求
在本次研讨会上针对目前国内及国际认证机构对无线通信产品测试及认证提出的新的要求和标准，摩尔实验室相关人员深入分析了GCF，PTCRB，CCC以及CTA认证上针对无线产品的发射性能的最新测试要求，资深OTA实验室工程师介绍了”天线与OTA测试技术”，SAR测试工程师针对”各国对SAR测试的标准”及要求进行了深入的讲解。同时面对各位来宾的具体需求，摩尔实验室各位专家结合摩尔实验室在实际测试中的丰富经验，分析了产品测试中存在的问题，并与到场的来宾共同探讨解决方案。
研讨会后，与会人员一同参观了摩尔实验室，其中重点参观了OTA和SAR实验室，并听取了相关工程师的详细讲解。莅会嘉宾纷纷表示，本次研讨会使他们及时地了解到最新的认证和测试标准，认识到新标准下的测试认证将更加严格，提高了他们对产品质量的重视程度。同时，大家也希望能与摩尔实验室有更多合作的机会。
图一: 来自各企业的100余名代表与会
图二: 摩尔实验室的相关专家就一些具体问题进行了现场解答
如需更多资料，请发信到以下地址：info_sz@morlab.cn或致电：0755－86130318。
