随着3G移动通讯服务（WCDMA，CDMA2000和TD-SCDMA）的快速发展、全球3G用户数量迅猛增长，第三代移动通信技术展现出了巨大的市场潜力和客观的市场容量。由工信部、发改委、科技部、中国工程院、中国科学院、深圳市政府等多个政府部委支持的2010中国电子展、2010消费电子展于4月9号到4月11号在深圳会展中心隆重举行。在此期间，也同时举办了国际手机行业高峰论坛、MID产业高峰论坛、智能本发展高峰论坛、以及移动电视国际研讨会、移动支付国际研讨会等活动.
摩尔实验室(MORLAB)也借此契机联合中国电子学会通信分会于2010年4月11日上午在深圳会展中心5层菊花厅主持并举办了“2010移动测试研讨会”.此次研讨会的目的是使移动终端测试领域的技术人员全面了解最新的移动测试解决方案，最新3G的仪表仪器的应用以及学习和了解全球各地区的产品认证规范要求。
此次我们同时邀请了安捷伦，艾法斯，安立，众友科技等测试仪表方案提供商进行现场互动和展示。
研讨会上所讨论的具体主题有:
⊙ 摩尔实验室-3G时代，手机应当更安全。
——摩尔实验室关于SAR和锂电池安全专题演讲
⊙ 安捷伦-个人移动终端的飞速变革和测试面临的挑战；
——安捷伦的3G终端一致性测试解决方案
⊙ RS公司-山雨欲来风满楼——移动终端生产测试理念的变革；
——RS公司的3G终端产线测试解决方案
⊙ 艾法斯-Aeroflex Wireless Measurement Solution；
——艾法斯的3G终端测试最新产品
图一: 摩尔实验室负责同事发表了主题演讲
图二: 200多位来宾莅临了本次研讨会
研讨会上除专题演讲外,还对来宾所关心的测试认证上的问题做了互动讨论。藉此研讨会的成功召开, 莅会嘉宾与摩尔实验室有了近距离的沟通和交流的机会，也促进了通信企业之间的沟通和技术交流。摩尔实验室将继续再接再厉，为广大企业搭建和维护好这样一个交流的平台。
如需更多资料，请发信到以下地址：info_sz@morlab.cn或致电：0755－86130318。
