2012年末，美国联邦通信委员会（FCC）发布了多项关于PBA（Permit But Ask）和LTE SAR的更新测试规范KDB文件。这包括《KDB 941225 D05 V02》和《KDB 447498 D01 Mobile Portable RF Exposure v05》。其的主要变更如下：
|
序号 |
测试规范内容 |
需要PBA |
不需要PBA |
|
|
按照新规范KDB 941225 D05 V02进行的LTE设备SAR测试 |
|
Ö |
|
|
制造商可按照旧规范KDB 941225 D05 V01进行测试，直至2012年12月31日 |
Ö |
|
|
|
频道带宽为80+80MHz或160MHz的802.11ac SAR测试 |
Ö |
|
|
|
SAR测试方法在2.0GHz以上增加了测试精度，测试时间约长15% |
|
|
|
|
KDB 941225 D05 V02与V01的主要区别在于LTE测试从中频的50%QPSK中间偏移和QPSK 1RB 上/下偏移为主，改为低/中/高频的QPSK 1RB或QPSK 50%上/中/下偏移为主 |
|
|
|
|
容积扫描SAR |
Ö |
|
|
|
带有P-传感器的平板电脑 |
Ö |
|
|
|
按照新规范KDB 941225 D05 V02进行的LTE设备SAR测试，增加容积扫面SAR |
Ö |
|
新KDB文件将在2013年1月1号正式开始使用，在2013年1月1号以后提交的FCC申请需要按照新KDB来进行测试。
文件中指出能按照《KDB 941225 D05 V02》指导文件完成的LTE设备：如USB数据卡、手机，该类LTE设备不需要走PBA流程。《KDB 941225 D05 V02》与“V01版本”的主要区别在于LTE测试从中频的50%QPSK中间偏移和QPSK 1RB 上/下偏移为主，改为低/中/高频的QPSK 1RB或QPSK 50%上/中/下偏移为主。
新《KDB 447498 D01 Mobile Portable RF Exposure v05》对SAR测试方法、测试门限、多发射机评估做了新定义，主要依据是功率大小和使用距离来判定。
《KDB 447498 D01 Mobile Portable RF Exposure v05》定义了做SAR测试的距离和功率的门限指标：
|
MHz |
5 |
10 |
15 |
20 |
25 |
30 |
35 |
40 |
45 |
50 |
mm |
|
150 |
39 |
77 |
116 |
155 |
194 |
232 |
271 |
310 |
349 |
387 |
SAR Test Exclusion Threshold (mW) |
|
300 |
27 |
55 |
82 |
110 |
137 |
164 |
192 |
219 |
246 |
274 | |
|
450 |
22 |
45 |
67 |
89 |
112 |
134 |
157 |
179 |
201 |
224 | |
|
835 |
16 |
33 |
49 |
66 |
82 |
98 |
115 |
131 |
148 |
164 | |
|
900 |
16 |
32 |
47 |
63 |
79 |
95 |
111 |
126 |
142 |
158 | |
|
1500 |
12 |
24 |
37 |
49 |
61 |
73 |
86 |
98 |
110 |
122 | |
|
1900 |
11 |
22 |
33 |
44 |
54 |
65 |
76 |
87 |
98 |
109 | |
|
2450 |
10 |
19 |
29 |
38 |
48 |
57 |
67 |
77 |
86 |
96 | |
|
3600 |
8 |
16 |
24 |
32 |
40 |
47 |
55 |
63 |
71 |
79 | |
|
5200 |
7 |
13 |
20 |
26 |
33 |
39 |
46 |
53 |
59 |
66 | |
|
5400 |
6 |
13 |
19 |
26 |
32 |
39 |
45 |
52 |
58 |
65 | |
|
5800 |
6 |
12 |
19 |
25 |
31 |
37 |
44 |
50 |
56 |
62 |
多发射机评估根据典型的10mm距离测试来判断。表格空白处SAR测试值如高于0.4W/kg，则必须要对多发射机进行评估。
|
MHz |
10 |
25 |
50 |
100 |
150 |
200 |
mW |
Min. Distance |
|
150 |
0.1 |
0.1 |
0.3 |
|
|
|
77 |
10(mm) |
|
300 |
0.1 |
0.2 |
0.4 |
|
|
|
55 | |
|
450 |
0.1 |
0.2 |
|
|
|
|
45 | |
|
835 |
0.1 |
0.3 |
|
|
|
|
33 | |
|
900 |
0.1 |
0.3 |
|
|
|
|
32 | |
|
1500 |
0.2 |
|
|
|
|
|
24 | |
|
1900 |
0.2 |
|
|
|
|
|
22 | |
|
2450 |
0.2 |
|
|
|
|
|
19 | |
|
3600 |
0.3 |
|
|
|
|
|
16 | |
|
5100 |
0.3 |
|
|
|
|
|
13 | |
|
5400 |
0.3 |
|
|
|
|
|
13 | |
|
5800 |
0.3 |
|
|
|
|
|
12 |
以上内容就是主要针对LTE终端在FCC认证中是使用的最新KDB规范内容的简要说明。LTE设备是第四代移动通讯终端，其的技术复杂性相对第三代和第二代移动通信设备有大幅提升。摩尔实验室（MORLAB）目前已经开展了针对FDD和TDD方式的LTE终端测试，目前可针对LTE终端完成其的OTA、RF、EMC、SAR、Safety、吞吐量、待机时间等性能测试要求，并已为部分客户完成了LTE设备的GCF，CE和FCC认证。
如需更多资料请发信到以下地址：info_sz@morlab.cn或致电：0755－61281201。
