汽车电子e-Mark测试介绍之大电流注入法实验

前言

    根据不同的车厂、国家的要求，针对汽车电子产品的窄带电磁辐射干扰测试的差异性是很大的，主要集中在测试频段、干扰强度以及天线的切换频率等等。本文主要根据ISO 11452-4来介绍大电流注入法（BCI）测试的基本条件以及一下要求。

标准名称

    ISO 11452-2: Road vehicles — Component test methods for electrical disturbances from narrowband radiated electromagnetic energy — Part 4: Bulk current injection (BCI)

测试目的

    该测试目的是检验设备对【1MHz – 400MHz】频带的抗干扰性能。

测试条件

 测试温度：(23 ± 5) °C.

 电源电压：(13.5 ± 0.5) V for 12 V; (27 ± 1) V for 24 V

 调制：
        a). 未调制正弦波信号（可使用范围：0.01 MHz to 18 GHz，校准时采用）

        b). 1KHz, 80%调制的AM（振幅调制）信号（可使用范围：0.01 MHz to 800MHz，测试时采用）

    滞留时间（Dwell time）： 不小于1s

    频率步长：

    测试严酷等级：

测试场地：

    测试应该在一个屏蔽室里完成

测试设备要求

    大电流注入探头，该探头工作频率要能满足测试范围，能持续的经受整个测试频率范围内的输入功率。

 大电流校准探头，该探头工作频率要能满足测试范围。

 AN（仿真网络）

 信号发生器，拥有内部（或者外部）的调制能力

 功率放大器

 功率计（或者等同设备），测试正向传输功率和反射功率

 电流测量设备

测试设置（替代法）

 接地板：材料为0.5mm（最小）后的铜，黄铜或者镀锌钢材；尺寸最小为1000mm宽，1500mm长或者超出被测物200mm；接地材料的阻抗应不大于2.5豪欧，间隔应不大与300mm。

 电源和AN：对于远端接地应用两个AN，对于近端接地可以只用一个AN（接于正极）。

 EUT摆放：EUT应置于绝缘，低介电常数（不大于1.4）且厚度为50(±5)mm的材料上。

 测试线束，EUT和模拟负载的线束总长应为1000(±100)mm，测试线束应置于绝缘，低介电常数（不大于1.4）且厚度为50(±5)mm的材料上。

 大电流探头：注入探头所在位置距EUT的距离d如下(替代法)：

        d = (150 ± 10) mm

        d = (450 ± 10) mm

        d = (750 ± 10) mm

测试结果性能判据

    Class A: EUT功能或性能一直保持正常，无任何异常现象

    Class B: 所有功能或性能在干扰状态下，一个或者多个功能或者性能偏移指定的容差，但所有功能或性能在干扰移除以后能恢复到规定的容差限值以内。并且存储数据不能有任何异常现象

    Class C: 一个或者多个功能或性能暂丧失，但在施加干扰之后EUT能自动恢复到正常模式

    Class D: 一个或者多个功能或性能暂丧失，但在施加干扰之后通过人为的干预能自动恢复到正常模式

    Class E: 一个或者多个功能或性能暂丧失，并且不能自动恢复到正常模式

    以上是对汽车电子产品大电流注入法测试的一些简单介绍。摩尔实验室（MORLAB）的测试能力涵盖了汽车电子产品的E/e-mark认证需求，其测试数据目前已获得了e1，e13，e17等相关认证机构的认可。并可基于CISPR25或GB 18655-2002为基础，完成其标准中所定义的辐射骚扰及传导骚扰等各项测试。

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