OTA与杂散测试

        对无线电管理工作来说，杂散发射是产生干扰的重要原因. 在无线电发射设备检测过程中，杂散测试是一个重要的必测项目。杂散是指在工作带宽外某个频点或某些频率上的发射，其发射电平可降低但不影响相应的信息传递。 包括：谐波发射、寄生发射、互调产物、以及变频产物，但带外发射除外。在射频测试中，杂散发射测试是一个基础测试项目，主要包括传导杂散测试和辐射杂散测试。下面主要谈一下辐射杂散的一些影响因素。

       辐射型杂散是指由于机箱(或机柜)以及设备的结构而引起的任何杂散辐射，主要是指由EUT的机壳、结构及互联电缆引起的杂散骚扰。所以说EUT的整机设计，天线质量，外壳材料及表面工艺的影响对辐射杂散存在一定的影响。在测试过程中，曾遇到很多不同因素的影响，比如：EUT机壳的金属框，喇叭的金属网，按键板的影响等等。但是这些只是外壳材料及表面工艺的影响，整机的设计、屏蔽占有更重要的地位。

       我们在杂散测试过程中遇到过很多因为屏蔽问题而耗费大量时间的项目. 摩尔实验室(MORLAB)曾有一个项目, 被测物(EUT)在传导杂散测试中指标良好,并有10dB的余量，但是在辐射杂散测试中，其2次谐波却超标了10dB。我们对其进行了OTA测试，也发现TRP指标不是很理想。初始以为是天线匹配问题，通过使用网络分析仪我们修改了天线匹配。测试后发现TRP指标有了改善，但是在暗室测试辐射杂散指标并没什么改善。通过跟我资深EMC工程师的沟通，了解一个通过采用了环形天线（如图一）来探测干扰源的方法。最后发现是PA屏蔽不好，使发射出来的信号很容易倍频到高次谐波上形成强干扰。修改后, 再进行测试,辐射指标达到了10dB的余量。从这个例子我们可以看出屏蔽的重要性。  图一

       图2所示是导致EMC性能不良的可能原因，可以根据这个来找出问题所在,并采用环形天线探测干扰源的方法（结构图, 如图3）寻找干扰源：

图三

       环形天线与频谱分析仪的射频电缆连接，设置频谱仪在合适的SPAN，并将频谱仪设置为寻找并保持最大轨迹点，方便地确定辐射源的位置和特性、辐射泄漏的具体部位和强度。这样不仅能找出屏蔽效果不好的地方，使得在整机设计时使用更好的方案。

图二

       MORLAB在OTA的测试中也出现过类似的情况，其测试频段包括GSM850、GSM900、DCS1800及PCS1900，在测试中GSM850、GSM900及DCS1800指标都很好，但是PCS1900的指标很差。因为DCS1800跟PCS1900使用的是同一根天线，根据天线的基本知识DCS1800的测试结果跟PCS1900测试结果应当差不多。测试样品是一个手机底座，所以为了查出是哪个部分的影响，我们把底座的按键板、喇叭网、喇叭及其他的一些附属器件一个一个安装上去进行测试，最终发现安装上调谐器之后，测试结果比没安装上去的结果相差达到7dB。仔细检查发现是调谐器的屏蔽未能做好，调谐器屏蔽的效果不好, 直接影响了其在测试频率上出现串扰, 使得测试结果不理想。通过相应修改后, 测试结果达到标准要求。

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