MORLAB举办移动终端测试技术研讨会

      2007年8月31日，摩尔实验室（MORLAB）与合作伙伴英国安耐特（Anite）公司，香港科技园（HKSTP）和安捷伦科技（Agilent）在深圳博林诺富特酒店，成功举办了“移动终端测试技术研讨会”。 本次会议参加的有各无线产品生产厂商，Design House，芯片设计方，各运营商的代表共170余人出席。在会上MORLAB实验室与相关合作伙伴一起对IOT/FT 测试技术, OTA天线测试方法, 手机协议及射频的一致性测试等问题均进行了阐述和探讨，并与相关人员在会后做了专题的交流并对具体问题进行了解答。

       在此次研讨会上，摩尔实验室特别介绍了其在天线测试平台（OTA）建设上所取得的最新进展。天线测试实验室（OTA）是摩尔实验室于本年6月新成立的实验室，它的成立祢补了以前无线产品测试技术中的短板。在以往射频性能测试中主要是在电缆连接模式下进行射频部分的性能测试。即使是在GCF等认证中，整机的辐射发射和接收性能也无相关的测试手段加以实现,而OTA 测试正好弥补了以上对无线产品测试中的不足。事实上，整机的实际发射和接收性能将直接影响其在网络中的真实表现，终端生产厂家必须对所生产手机和其它无线产品的辐射性能有清楚的了解，并通过各种措施提高手机和其它无线产品的辐射发射和接收等各方面的指标。如果手机等无线产品的辐射性能不好，将直接表现为信号不好、语音通话质量差、容易掉线等多方面的问题，这也是目前客户投诉比较多的问题之一。

       MORLAB天线测试实验室的OTA测试系统填补了华南地区对天线测试能力的不足，也为移动通信设计单位和相关制造厂商提供了一个测试其无线产品真实性能的平台。

       如您需要更多资料请您发信到以下地址索要：Service@morlab.cn，电话：0755－86130268。